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Eco-design in power electronics. Impacts of sizing, modularity, and diagnosticability ; Écoconception en électronique de puissance. Impacts du dimensionnement, de la modularité et de la diagnosticabilité

• Authors : Baudais, Briac;

Subjects: Eco-Design; Power electronics; Circularity

• Source: https://theses.hal.science/tel-04659788 ; Electronique. Université Paris-Saclay, 2024. Français. ⟨NNT : 2024UPAST092⟩.

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Conception d'un système de vérification de la diagnosticabilité par model checking à partir du modèle du système

• Authors : Chankate, Mehdi; Philippot, Alexandre; Carré-Ménétrier, Véronique ...

Subjects: Diagnostic; Automate à états finis; Systèmes à Evénements DiscretsToulouse; France

• Source: 12ème Conférence Internationale de Modélisation, Optimisation et Simulation, MOSIM 2018https://hal.science/hal-0211402412ème Conférence Internationale de Modélisation, Optimisation

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Diagnosticabilité et diagnosticabilisation de motifs temporels dans les réseaux de Petri temporels ; Diagnosability and diagnosabilisation of time patterns in time Petri nets

• Authors : Coquand, Camille;

Subjects: Diagnosticabilité; Motifs temporels; Diagnosticabilisation

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Diagnosability and diagnosabilisation of time patterns in time Petri nets ; Diagnosticabilité et diagnosticabilisation de motifs temporels dans les réseaux de Petri temporels

• Authors : Coquand, Camille;

Subjects: Diagnosability; Timed pattern; Diagnosabilization

• Source: https://laas.hal.science/tel-04419685 ; Automatique / Robotique. INSA de Toulouse, 2023. Français. ⟨NNT : 2023ISAT0035⟩.

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A Short Overview on Diagnosability of Patterns in Timed Petri Net ; Résumé de la diagnosticabilité des motifs dans un réseau de Petri temporisé

• Authors : Lubat, Éric; Dal Zilio, Silvano;

Subjects: [INFO.INFO-FL]Computer Science [cs]/Formal Languages and Automata Theory [cs.FL]; [INFO.INFO-AU]Computer Science [cs]/Automatic Control Engineering; [INFO.INFO-DS]Computer Science [cs]/Data Structures and Algorithms [cs.DS](on line); France

• Source: 14th Summer School on Modelling and Verification of Parallel Processes (MOVEP 2020)https://hal.science/hal-0289952214th Summer School on Modelling and Verification of Parallel Processes

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Génération du comportement observable d'un système pour l'étude de la diagnosticabilité de défauts

• Authors : Batteux, Michel; Fiani, Philippe; Rapin, Nicolas ...

Subjects: modélisation de défauts; diagnostic à base de modèles; diagnosticabilitéAngers; France

• Source: QUALITA 2011 ; https://inria.hal.science/hal-00643674 ; QUALITA 2011, Mar 2011, Angers, France

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Diagnosticabilité des Systèmes à Évènements Discrets: Une Nouvelle Variante de l'Approche Diagnostiqueur

• Authors : Boussif, Abderraouf; Ghazel, Mohamed;

Subjects: SYSTEME DISCRET; METHODE DES ELEMENTS DISCRETS; MODELISATIONMarseille; France

• Source: MSR 2017 - 11ème Colloque sur la Modélisation des Systèmes Réactifs ; https://hal.science/hal-01647847 ; MSR 2017 - 11ème Colloque sur la Modélisation des Systèmes Réactifs, Nov 2017,

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Diagnosticabilité de Réseaux de Petri Labellisés basée sur les explications minimales et les T-semiflots

• Authors : Li, Ben; Khlif-Bouassida, Manel; Toguyéni, Armand ...

Subjects: Labeled Petri nets; Diagnosability analysis; On-the-fly diagnosisNancy; France

• Source: Modélisation des Systèmes Réactifs (MSR 2015) ; https://inria.hal.science/hal-01224445 ; Modélisation des Systèmes Réactifs (MSR 2015), Nov 2015, Nancy, France

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Une Approche par Décomposition de Modèles pour l'Analyse de la Diagnosticabilité des SEDs par Model-Checking

• Authors : Boussif, Abderraouf; Ghazel, Mohamed;

Subjects: [INFO.INFO-AU]Computer Science [cs]/Automatic Control EngineeringNancy; France

• Source: Modélisation des Systèmes Réactifs (MSR 2015) ; https://inria.hal.science/hal-01224281 ; Modélisation des Systèmes Réactifs (MSR 2015), Nov 2015, Nancy, France

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Diagnostic et Diagnosticabilité des Systèmes à Evénements Discrets Complexes Modélisés par des Réseaux de Petri Labellisés ; Diagnosis and Diagnosability of Complex Discrete Event Systems Modeled by Labeled Petri Nets

• Authors : Li, Ben;

Subjects: Diagnostic de fautes; Systèmes à événements discrets (SED); Réseaux de Petri labellisés (RdP-L)

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