نتائج البحث

INVESTIGATION OF FUNCTIONAL SURFACES OF MECHATRONIC DEVICES BY MULTIPROBE ATOMIC FORCE MICROSCOPY

Subjects: thin coating; surface topology; топологія поверхні

• Source: Вісник Черкаського державного технологічного університету; № 3 (2021): Вісник Черкаського державного

تفاصيل العنوان

APPLICATION OF ATOMIC-FORCE MICROSCOPY FOR THE EXAMINATION OF THE TOOTH ENAMEL SURFACE ; ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ЭМАЛИ ЗУБА ; ЗАСТОСУВАННЯ АТОМНО-СИЛОВОЇ МІКРОСКОПІЇ ДЛЯ ВИВЧЕННЯ ПОВЕРХНІ ЕМАЛІ ЗУБА

• Authors : Pupin, T. І.; Minko, L. Yu.; Ilnitskaya, O. M.

Subjects: enamel surface morphology; atomic force microscopy; морфология поверхности эмали

• Source: Bulletin of Scientific Research; No. 1 (2018) ; Вестник научных исследований; № 1 (2018) ; Вісник наукових досліджень; № 1 (2018) ; 2415-8798 ;

تفاصيل العنوان

Hybridized polysilicate/poly(vinylester urethane urea)s system. II. Investigation of morphology by atomic force microscopy.

• Authors : Gryshchuk, S.¹; Karger-Kocsis, J.²; Kastelya, N.²

• Source: Polymer Journal / Polymernyi Zhurnal (18181724). 2008, Vol. 30 Issue 2, p141-145. 5p.

تفاصيل العنوان

Influence of Electrocapillarity on the Water Meniscus Shape in the Atomic Force Microscopy ; Вплив електрокапiлярностi на форму водяного менiска в атомно-силовiй мiкроскопiї

• Authors : Eliseev, E. A.

Subjects: електрокапiлярнiсть; атомно-силова мiкроскопiя; водяний менiск

• Source: Ukrainian Journal of Physics; Vol. 60 No. 8 (2015); 796 ; Український фізичний журнал; Том 60 № 8 (2015); 796 ; 2071-0194 ; 2071-0186 ;

تفاصيل العنوان

Changes in the Structure and Properties of Silicon During Ytterbium Doping: The Results of o Comprehensive Analysis

• Authors : Khodjakbar S. Daliev; Sharifa B. Utamuradova; Jonibek J. Khamdamov

Subjects: monocrystalline silicon; ytterbium doping; atomic force microscopy

• Source: East European Journal of Physics, Iss 4, Pp 240-249 (2024)

تفاصيل العنوان

THE STUDY OF MICROELECTROMECHANICAL PIEZOELECTRIC STRUCTURES BY THE METHOD OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY

• Authors : К. В. Базіло; С. О. Білокінь; М. О. Бондаренко

Subjects: мікроелектромеханічні структури; атомно-силова мікроскопія; мікронерівність поверхні

• Source: Вісник Черкаського державного технологічного університету, Vol 1, Iss 3, Pp 21-26 (2018)

تفاصيل العنوان

НИЗЬКОТЕМПЕРАТУРНА ТЕХНОЛОГІЯ ОТРИМАННЯ ПРОЗОРИХ ПЛІВОК ОКСИДУ ІНДІЮ-ОЛОВА З ВИСОКОЮ ПРОВІДНІСТЮ.

• Authors : Турко, Б.¹ ; Васільєв, В.¹; Еліяшевський, Ю.¹

• Source: Journal of Physical Studies. 2022, Vol. 26 Issue 4, p4402-1-4402-7. 7p.

تفاصيل العنوان

Influence of various capping agents on optical properties and stability of MnS nanoparticles

• Authors : V.G. Pylypko; O.V. Krupko; P.M. Fochuk

Subjects: manganese (ii) sulphide; nanoparticles; synthesis, l–cysteine

• Source: Фізика і хімія твердого тіла, Vol 23, Iss 4, Pp 678-685 (2022)

تفاصيل العنوان

Контроль геометричних розмірів зондів для атомно-силової мікроскопії інформаційно-вимірювальною системою ; Control of geometric sizes atomic force microscopy probe for information-measuring system

• Authors : Маркін, Максим Олександрович; Маркіна, Ольга Миколаївна; Кущовий, Сергій Миколайович

Subjects: зонд атомно-силового мікроскопа; контраст; штрихова міра

تفاصيل العنوان

Features of Network Formation in Solutions of Rigid-Chain Polymers ; Особливості утворення сітки в гелях жорстколанцюгових полімерів

• Authors : Zabashta, Yu.F.; Kovalchuk, V.I.; Svechnikova, O.S.

Subjects: polymer network; dynamic light scattering; atomic force microscopy

• Source: Ukrainian Journal of Physics; Vol. 68 No. 2 (2023); 132 ; Український фізичний журнал; Том 68 № 2 (2023); 132 ; 2071-0194 ; 2071-0186 ;

تفاصيل العنوان