Item request has been placed!

Item request cannot be made.

Processing Request

نتائج البحث

Display Settings

النتائج لكل صفحة: 10

Sort By: Relevance

Filter

فلترة النتائج

Collection : University Of Twente Publications

إعادة تعيين خيارات الفبترة

Item request has been placed!

Item request cannot be made.

Processing Request

Academic Journal

Mixed-Signal Testability Analysis for Data-Converter IPs

Authors : Kraats, Araldo van de; Kerkhoff, Hans G.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Bridging the Testing Speed Gap: Design for Delay Testability

Authors : Speek, H.; Kerkhoff, H.G.; Sachdev, M.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Testability issues in superconductor electronics

Authors : Kerkhoff, Hans G.; Joseph, Arun A.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Testability enhancement of a basic set of CMOS cells

Authors : Rullan, M.; Oliver, J.; Ferrer, C.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

A design for testability expert system for silicon compilers

Authors : Riessen, R.P. van; Kerkhoff, H.G.; Janssen, J.M.J.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Testability enhancement using physical design rules in a CMOS cell library

Authors : Blom, F.C.; Oliver, J.; Rullan, M.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Layout level design for testability strategy applied to a CMOS cell library

Authors : Blom, F.C.; Oliver, J.; Rullan, M.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Towards testability in smart card operating system design

Authors : Hartel, Pieter H.; Jong, Eduard K. de

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Academic Journal

Scan cell design for enhanced delay fault testability

Authors : Brakel, Gerrit van; Xing, Yizi; Kerkhoff, Hans G.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

Dissertation/ Thesis

Design-for-delay-testability techniques for high-speed digital circuits

Authors : Vermaak, Hermanus Jacobus

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي

نتائج البحث

فلترة النتائج

Mixed-Signal Testability Analysis for Data-Converter IPs

Bridging the Testing Speed Gap: Design for Delay Testability

Testability issues in superconductor electronics

Testability enhancement of a basic set of CMOS cells

A design for testability expert system for silicon compilers

Testability enhancement using physical design rules in a CMOS cell library

Layout level design for testability strategy applied to a CMOS cell library

Towards testability in smart card operating system design

Scan cell design for enhanced delay fault testability

Design-for-delay-testability techniques for high-speed digital circuits

اتصل بنا

اتبع