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Conference

Méthode unifiée de diagnostic ciblant l'ensemble des modèles de fautes

Subjects: Diagnostic; [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/MicroelectronicsRennes; France

  • Source: 9ièmes Journées Nationales du Réseau Doctoral de MicroélectroniqueJNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectroniquehttps://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00136841

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