Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading  Processing Request

نتائج البحث

Display Settings
النتائج لكل صفحة: 10
Sort By: Relevance
Filter
  • 1-1 of  1 نتائج ل ""Niu, Xiaoxiao""

فلترة النتائج

Collection : Archive Ouverte Hal (Hyper Article En Ligne, Ccsd - Centre Pour La Communication Scientifique Directe) Publisher : ieee فلترة بواسطة : مؤلف
إعادة تعيين خيارات الفبترة
Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading  Processing Request
Academic Journal

A Highly Robust and Low-Power Flip-Flop Cell With Complete Double-Node-Upset Tolerance for Aerospace Applications

Subjects: Radiation protection; Circuit hardening; Flip-flop reliability

  • Source: ISSN: 2168-2356 ; IEEE Design & Test ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-04236363 ; IEEE Design & Test, 2023, 40 (4), pp.34-41.

تفاصيل العنوان

اقرأ أكثر حفظ في قائمتي
×
  • 1-1 of  1 نتائج ل ""Niu, Xiaoxiao""