Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading  Processing Request

Defect Studies Using Advances with Ion Beam Excited Luminescence

Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading   Processing Request
اقرأ أكثر حفظ في قائمتي
  • المؤلفون: Townsend, Peter D.; Wang, Yafang
  • المصدر:
    Energy Procedia ; volume 41, page 64-79 ; ISSN 1876-6102
  • نوع التسجيلة:
    article in journal/newspaper
  • اللغة:
    English
  • معلومة اضافية
    • بيانات النشر:
      Elsevier BV
    • الموضوع:
      2013
    • Collection:
      ScienceDirect (Elsevier - Open Access Articles via Crossref)
    • الرقم المعرف:
      10.1016/j.egypro.2013.09.008
    • Rights:
      https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0/ ; http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/
    • الرقم المعرف:
      edsbas.BEAD69CE