Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading  Processing Request

The Use of High Energy X-Ray Generators for TID Testing of Electronic Devices ; L'utilisation de générateurs de rayons X à haute énergie pour les tests TID des appareils électroniques

Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading   Processing Request
اقرأ أكثر حفظ في قائمتي
  • معلومة اضافية
    • Contributors:
      Université de Montpellier (UM); Institut d’Electronique et des Systèmes (IES); Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM); Radiations et composants (RADIAC); Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM); Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC); CERN Genève
    • بيانات النشر:
      HAL CCSD
    • الموضوع:
      2022
    • Collection:
      Université de Montpellier: HAL
    • الموضوع:
      Venise; Italy
    • نبذة مختصرة :
      International audience ; The use of a high energy X-ray generator for electronic device TID testing is studied and compared to cobalt-60. Xray spectrum is filtered to reduce photoelectric effect due to low energy photons. Experimental results are presented and discussed. ; L'utilisation d'un générateur de rayons X à haute énergie pour les tests TID des appareils électroniques est étudiée et comparée au cobalt 60. Le spectre des rayons X est filtré pour réduire l'effet photoélectrique dû aux photons de faible énergie. Les résultats expérimentaux sont présentés et discutés.
    • الدخول الالكتروني :
      https://hal.science/hal-04580360
      https://hal.science/hal-04580360v1/document
      https://hal.science/hal-04580360v1/file/POSTER_RADECS_2022.pdf
    • Rights:
      http://creativecommons.org/licenses/by/ ; info:eu-repo/semantics/OpenAccess
    • الرقم المعرف:
      edsbas.A10268B4