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Semaine d'Etude Mathématiques et Entreprises 6 : Analyse statistique des défauts en électronique analogique

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  • معلومة اضافية
    • Contributors:
      Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL); Equations aux Dérivées Partielles (EDP); Laboratoire Jean Kuntzmann (LJK); Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); Institut Camille Jordan (ICJ); École Centrale de Lyon (ECL); Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL); Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon); Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Jean Monnet - Saint-Étienne (UJM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS); Modelling and Inference of Complex and Structured Stochastic Systems (MISTIS); Inria Grenoble - Rhône-Alpes; Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Laboratoire Jean Kuntzmann (LJK); Agence pour les Mathématiques en Interaction avec l'Entreprise et la Société (AMIES); GDR CNRS Mathématiques et Entreprises
    • بيانات النشر:
      HAL CCSD
    • الموضوع:
      2013
    • Collection:
      Université de Rennes 1: Publications scientifiques (HAL)
    • نبذة مختصرة :
      Nous nous intéressons à des données issues de mesures de tensions sur des circuits électroniques analogiques. Plus précisément, il s'agit de proposer une analyse de courbes représentant l'évolution en fonction du temps des tensions en différents nœuds d'un circuit électronique. Notre objectif est de proposer une analyse automatisée de la qualité des courbes. Plus précisément, nous proposons ici des méthodes statistiques d'analyse de données capable de : -- Identifier d'éventuels patterns dans les courbes (classification), -- Isoler les courbes présentant des "anomalies" (détection de courbes suspectes).
    • Relation:
      hal-00933235; https://hal.science/hal-00933235; https://hal.science/hal-00933235/document; https://hal.science/hal-00933235/file/SEME006-2013-06-D.pdf
    • Rights:
      info:eu-repo/semantics/OpenAccess
    • الرقم المعرف:
      edsbas.8125FA6E