Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading  Processing Request

Taajuusmuuttajan luotettavuussuunnittelu laajalle lämpötila-alueelle ; Reliability design of frequency converter for high temperature operation

Item request has been placed! ×
Item request cannot be made. ×
loading   Processing Request
  • معلومة اضافية
    • Contributors:
      Toikka, Ismo; Vuorinen, Vesa; Elektroniikan laitos; Paulasto-Kröckel, Mervi; Aalto-yliopisto; Aalto University
    • بيانات النشر:
      Aalto University
      Aalto-yliopisto
    • الموضوع:
      2011
    • Collection:
      Aalto University Publication Archive (Aaltodoc) / Aalto-yliopiston julkaisuarkistoa
    • نبذة مختصرة :
      Taajuusmuuttajien uudet, tavallista rankemmat, käyttöympäristöt tuovat mukanaan haasteita elektroniikan toiminnallisuuden ja kestävyyden suhteen. Erityisesti entistä laajemmat toimintalämpötilat sekä lämpötilan vaihteluvälit vaikuttavat suuresti taajuusmuuttajan luotettavuuteen. Tässä diplomityössä perehdyttiin erään taajuusmuuttajan ohjauspiirikortin luotettavuuden tarkasteluun ja kasvattamiseen tavallista laajemmalla lämpötila-alueella. Työssä otettiin kantaa sekä kortin komponenttivalintoihin että piiriratkaisuihin, joilla on vaikutusta sekä toimintaan että kestävyyteen. Työssä tarkasteltiin piirikortin komponenttien osalta lämpötilan vaikutus niiden oleellisiin parametreihin sekä toiminnallisuuteen. Lisäksi työssä analysoitiin taajuusmuuttajan piirikortti ja etsittiin ongelmalliset komponentit ja piiriratkaisut sekä ehdotettiin muutoksia, joiden avulla laajempi toimintalämpötila-alue voitaisiin saavuttaa. Tavallista matalampi lämpötila ei osoittautunut ongelmalliseksi, mutta korkeamman havaittiin vaativan huomioonottamista suunnittelussa. Komponenteista kondensaattorit sekä ferriittisydämiset kelat ja muuntajat osoittautuivat haastaviksi. Niiden parametrien muuttuminen lämpötilan suhteen on usein suurta, ja varsinkin kondensaattorien elinikä korotetussa lämpötilassa jää lyhyeksi. Puolijohdekomponenteilla oleellista on vuotovirran kasvu, joka tulee ottaa huomioon varsinkin suuri-impedanssisissa piireissä, sekä toiminnan hidastuminen joka vaikuttaa nopeisiin yhteyksiin. Pieniä jännitteitä käytettäessä kynnysjännitteiden muutokset saattavat aiheuttaa virheellisiä tilamuutoksia. Kestävyyden kannalta lämpötilan vaihtelut aiheuttavat komponenttien vikaantumista varsinkin juotosliitoksista. Jalalliset ja pienet komponentit, joiden lämpölaajenemiskerroin vastaa piirilevyn kerrointa kestävät lämpötilan muutoksia oletettavasti parhaiten. Muita vikamekanismeja voidaan hidastaa ylimitoittamalla komponentteja virran ja jännitteen suhteen, jolloin myös häviötehon aiheuttama kuumeneminen vähenee. ; The reliability of ...
    • File Description:
      [10] + 67; application/pdf
    • ISSN:
      20120702
    • Relation:
      https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/3715; URN:NBN:fi:aalto-201207022681
    • الدخول الالكتروني :
      https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/3715
    • Rights:
      openAccess
    • الرقم المعرف:
      edsbas.13C97C27